測試程序在LED壽命試驗中，先對試驗樣品進行光電參數測試篩選，淘汰光電參數超規或異常 的器件，合格者進行逐一編號并進行壽命試驗，完成連續試驗后進行復測，以獲得壽命試驗 結果。為了使壽命試驗結果客觀、正確，除做好測試儀器的計量外，還規定原則上試驗前后 所采用的是同一臺測試儀測試，以減少不必要的誤差因素。
6.LED的壽命的預測對壽命的預測是LED行內普遍的迫切的要求，LED通常以發光強度或光通量衰減到初 始值50％的時間為半衰期，對于LED壽命的預測，IEC多次召開光源專家會議在起草相關 通過提高溫度進行加速壽命的試驗。
一般把壽命預測試驗分為兩類。
(1）長期壽命試驗。為了確認LED燈具壽命是否達到3.5萬h，按美國ASSIST 聯盟規 定，應進行長期壽命試驗，首先需要電老化1000h后，測出光通量作為初始值。然后加額定 電流通電3000h，測量光通量應該衰減要小于4%，再繼續通電3000h，光通量衰減要小于 8%，再通電4000h，測得光通量衰減要小于初始值的14%，這樣在光通量測出后通電共 1.1萬h，而光通量達到初始值的86％以上。此時才可證明確保LED壽命達到3.5萬h。該 辦法比較麻煩，1.1萬h意味著要試驗1年多，其實用意義確實不大。
(2）加速壽命試驗。電子器件加速壽命試驗可以在加大應力（此處應力并非機械上的應 力，而指相應的實驗條件）下進行試驗，這里要討論的是采用溫度應力的辦法，測量計算出 來的壽命是LED平均壽命，即MTTF。《信息技術與標準化》雜志提出該方法，采用此方 法將會大大地縮短LED壽命的測試時間，有利于及時改進、提高 LED可靠性。加大溫度應 力的壽命試驗方法已經有不少資料提及，主要是引用"亞瑪卡西"(yamakoshi）的發光管光 功率緩慢退化公式，通過退化系數得到不同加速應力溫度下LED的壽命試驗數據，再用 "阿倫尼斯"(Arrhenius）方程的數值解析法得到正常應力下的 LED的平均壽命，簡稱"退 化系數解析法"，該方法采用三個不同應力溫度即165、175、185℃下，測量的數據計算出 室溫下平均壽命的一致性。該試驗方法是可靠的，其依據是國家標準（GB 1772）規定的電 子元器件加速壽命試驗方法，選擇了工作環境溫度作為加速應力。
目前相關單位已起草制定 "半導體發光二極管壽命的試驗方法"標準，國內一些企業也同時研制加速壽命試驗的設備 儀器。這對LED產業的發展起來推動作用。除了采用溫度應力，還可采用電流應力的辦法 對大功率LED作加速壽命試驗，采用1.5 倍的電流，或加以溫度應力，可以做一綜合嘗試。目前使用的 LED路燈，如廠家通過加速老化試驗，以及國家檢測機構的測試和測算， 5000h的光衰率小于3%，由此推斷光衰到70％需要50 000h。這一數據在一年多的實踐中 已經得到證明，通過該測試的 LED燈作為道路照明應該是放心的。http://m.scxdfk.com/
